髙橋尋子、新垣雅進、樋上俊哉

概要

活物質を含む電極の膨張収縮を高さ情報として、充放電中に測定する電極厚み測定技術を確立した。黒鉛系およびシリコン系電極厚みの定量評価により、充放電サイクル数を重ねるに従い、電極厚みが膨張し続ける挙動を明らかにし、充放電試験後の電極は断面SEM(走査型電子顕微鏡;Scanning Electron Microscopy)観察結果から正確な厚みが測定できていることを確認した。これは活物質の膨張収縮挙動だけでなく、電解液の浸透やSEI (イオン導電性被膜;Solid Electron Interface)の堆積などにより体積膨張が継続するものと推測される。この厚み測定結果と充放電特性と照らし合わせて、電極変化を観察することで、電極挙動を明らかにすることができ、最適な銅箔選定のための情報を得ることができる。

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