古河電工時報 第143号X線・中性子小角散乱による超電導体及び金属の解析

佐々木宏和、山崎悟志、大場洋次郎、大沼正人

X線・中性子小角散乱により，金属ナノ粒子，高温超電導線材中の人工ピン，銅合金の析出相の解析を行った。小角散乱を用いれば，これら微細分散したナノスケールの構造体の大きさ，形状，間隔などの平均情報を得ることができる。また，小角散乱プロファイルの解析において妥当性を担保するためには，TEMや3次元アトムプローブなどの実空間観察手法を相補的に利用することも必要である。本報告ではこれらの活用事例を紹介する。