古河電工時報 第139号自動車・エレクトロニクスタフピッチ銅の屈曲特性に及ぼす結晶方位及び結晶粒径の影響

松尾亮佑

タフピッチ銅（C1100）の屈曲特性に及ぼす結晶方位並びに結晶粒径の影響について調査を行った。同一条件下でIPC屈曲試験を行った結果，{001}<100>方位（W方位）に配向したサンプルは{001}<110>方位（NDW方位）粒の配向したサンプルに対し優れた寿命を示した。試験後の表面観察及び分析の結果，W方位に配向したサンプルに対しNDW方位に配向したサンプルの表面荒れが確認され，一部に破壊起点になると推測されるクラックの存在が確認された。また結晶粒径はランダム配向の場合において，粒径が小さいほど屈曲性能に優れることを明らかにした。