佐々木宏和、西久保英郎、西田真輔、山崎悟志、中崎竜介、磯松岳己、湊龍一郎、衣川耕平、今村明博、大友晋哉、堀祐臣、廣瀬清慈、穴田智史、山本和生、平山司、山﨑順、柴田直哉、大場洋次郎、大沼正人

概要

電子顕微鏡,放射光,表面分析の先端解析技術を様々な新材料・デバイスに活用した事例を紹介する。光通信用半導体レーザの解析に,電子線ホログラフィ,DPC-STEMの電子顕微鏡技術を活用した。気泡エナメル巻線の解析には,FIB-SEMによる3次元解析法を活用した。超電導線材と銅合金の解析には,SPring-8においてSAXS法を用いた。AuSnはんだの解析には,HAXPESの表面分析手法を活用した。

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